SiC量检测设备|谦视智能获数千万元融资
点击量:666发布时间:2024-01-31 10:42:03
半导体量检测设备公司谦视智能宣布完成A+轮数千万元融资,投资方为沃赋创投、高瓴创投、麒麟创投,禾慕创投追投。对于融资用途,谦视智能表示将在南京设立生产基地,预计可支持年产能300台套高端装备的生产。
此前,谦视智能已在上海设有1000平米无尘研发车间。
谦视智能成立于2017年,专注于实现高端半导体量检测设备的国产化,业务覆盖SiC基,GaAs基,Si基等多种应用领域。同时,产品覆盖从晶圆检测到封装检测等多个节点的系列产品。
据悉,谦视智能目前的核心产品主要包括形貌检测设备、微管及位错检测设备、综合缺陷检测设备、膜厚及纳微结构测量仪等。其中,形貌检测设备,主要用于晶圆主要几何参数指标的测量。可用于工艺流程中的切割、研磨、抛光、减薄等各环节,对晶圆形貌进行测量控制。
SiC微管及位错检测设备,是针对SiC衬底研发的缺陷检测设备,系统采用精密光学显像系统,结合深度学习算法,对缺陷进行检测及归类,提升了客户对产品瑕疵的检测效率。
综合缺陷检测设备,主要用于SiC衬底片/外延片综合瑕疵检测,测量表面的颗粒、划痕、表面缺陷、晶体瑕疵等各类瑕疵。
膜厚及纳微结构测量仪,可用于各种wafer结构的总厚测量、多层材质的层厚测量、翘曲测量、粗糙度测量、关键尺寸测量等。
客户方面,谦视智能目前已经覆盖50余家各类半导体客户,其中SiC衬底行业渗透率90%以上,累计出货设备200余台。
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